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上海儀電物光 顆粒圖像分析儀

型　號WKL-702

產品時間2024-10-12

所屬分類上海儀電

報價

產品描述：上海儀電物光 顆粒圖像分析儀
將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。
產品概述

上海儀電物光  顆粒圖像分析儀

將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。

該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數，以線性或非線性統計方式繪出分布圖。

上海儀電物光  顆粒圖像分析儀

技術參數

儀器型號

WKL-702

測量范圍

0.1～3000（微米）

總放大倍數

8000倍

最大分辨率

0.1微米/像素

重復性

誤差≤±1％

自動分割速度

≤1秒

數字攝像機(CCD)

500萬像素

數據儲存

電腦需另配（i5+8G內存+純固態硬盤或雙硬盤以上配置）

通信接口

USB

操作系統

Windows 98/XP/7/8/10/11系統均可

電源

AC220V ±10％，50 Hz， 200 W

儀器尺寸

270mm×410mm×440mm

儀器凈重

15kg


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